意法半导体推出内置机器学习内核的高精度测斜仪

8月26日，意法半导体的IIS2ICLX是一款高精度、低功耗的双轴数字测斜仪，用于工业自动化和结构健康监测[1]等应用，具有可设置的机器学习内核和16个独立的可设置有限状态机，有助于边缘设备节能省电，减少向云端传输的数据量。

不仅内置先进的嵌入式功能，IIS2ICLX还能够降低系统功耗，延长电池供电节点的续航时间。该传感器固有特性可简化与高性能产品的集成，同时最大程度地减少传感器校准工作量和成本。

IIS2ICLX测斜仪采用MEMS加速度计技术，±0.5 /±1 /±2 /±3g满量程可选，并通过I2C或SPI数字接口输出数据。嵌入式补偿单元使温漂保持在0.075mg/°C以内，即使环境温度发生剧烈波动，传感器的测量精度和重复性也非常出色。15μg/√Hz的超低噪声密度可实现高分辨率倾角监测，以及结构健康监测所需的低声压的低频振动度测量。

IIS2ICLX具有高稳定性和可重复性、高精度和高分辨率的优点，特别适合工业应用，例如天线指向监测、云台调平、叉车和建筑机械、调平仪器、设备安装监测、以及太阳能板安装和光线跟踪，以及工业4.0应用，例如，机器人和自动驾驶汽车(AGV)。

在结构健康监测中，IIS2ICLX可以准确地测量倾斜度和振动，帮助评估人员分析高楼等高耸建筑物和桥梁或隧道等基础设施的结构完整性。与采用早期的较昂贵的探测技术的结构健康监测传感器相比，价格适中的电池供电的基于IIS2ICLX的MEMS倾斜传感器能够对更多结构进行安全监测。

许多高精度测斜仪是单轴测量设备，而2轴IIS2ICLX加速度计却可以检测两个坐标轴与水平面的倾斜角（俯仰角和翻转角），或者将两个坐标轴合并成单轴，测量物体与水平面单一方向的倾斜角，可重复测量精度和分辨率更高，可测量±180°范围内的倾角。数字输出可以节省外部数模转换或滤波器件，简化系统设计，降低物料清单（BOM）成本。

为了简化IIS2ICLX的开发设计，加快应用开发周期，意法半导体还提供了专门的传感器校准和倾斜角实时计算软件库，这些软件库属于STM32Cube的X-CUBE-MEMS1扩展软件包。

IIS2ICLX采用5mm x 5mm x 1.7mm的高性能陶瓷腔LGA封装，工作温度范围-40°C至+105°C 。现在可提供样片。该产品现已投入量产。